Mikroskop FTIR Spotlight 400
Obrazowanie IR
Spotligh 400 - System obrazowania w podczerwieni
Mikroskop FTIR Spotlight 400
Spotlight 400 mikroskop FTIR z pełną automatyzacją i systemem obrazowania
Detektor matrycowy
Opatentowany 16-elementowy detektor, zapewniający szybki pomiar, niskie szumy i szeroki zakres.
Dedykowane oprogramowanie
Specjalny moduł pomiarowy, kontrolujący urządzenie oraz obsługujący duże ilości zgromadzonych danych. Dodatkowa obróbka chemometryczna widm pozwala na ujawnienie subtelnych właściwości próbki na poziomie mikro.
Akcesorium ATR do obrazowania
Wyjątkowe akcesorium pomiarowe umożliwiające pomiar próbki z rozdzielczością na granicy praw fizyki.
Mikroskop FTIR Spotlight 400
Spotlight 400 mikroskop FTIR z pełną automatyzacją i systemem obrazowania
Detektor matrycowy
Opatentowany 16-elementowy detektor, zapewniający szybki pomiar, niskie szumy i szeroki zakres.
Dedykowane oprogramowanie
Specjalny moduł pomiarowy, kontrolujący urządzenie oraz obsługujący duże ilości zgromadzonych danych. Dodatkowa obróbka chemometryczna widm pozwala na ujawnienie subtelnych właściwości próbki na poziomie mikro.
Akcesorium ATR do obrazowania
Wyjątkowe akcesorium pomiarowe umożliwiające pomiar próbki z rozdzielczością na granicy praw fizyki.
Opis
Mikroskop FTIR Spotlight 400 to zaawansowany system obrazowania wprowadzający użytkownika na wyższy poziom wydajności i elastyczności. Posiada on także swój odpowiedni w zakresie bliskiej podczerwieni Spotlight 400N. Dzięki obu systemom obrazowania Spotlight 400 FTIR i Spotlight 400N FT-NIR uzyskasz bezprecedensową, bezkompromisową jakość danych oraz wyraźne, kompletne i niezwykle szczegółowe wyniki ze wszystkich próbek. Systemy Spotlight FTIR zostały zaprojektowane specjalnie do szerokiego zakresu wymagających zastosowań obrazowania. Dzięki temu możesz z łatwością przełączać się między trybami próbkowania: standardową transmisją, odbiciem, obrazowaniem ATR i innymi, a obrazy mogą być zbierane z dużą prędkością przy niezwykle wysokiej czułości. Systemy Spotlight 400 wyznaczają standard przejrzystości w obrazowaniu FTIR. Zapewniają wyjątkowo szeroki zakres widmowy i wybór rozdzielczości, od bardzo czułej opcji 1,56 μm do piksela 50 μm w tych zastosowaniach obrazowania, w których prędkość jest najważniejsza.
Opcjonalny, duży stolik zwiększa dostępny obszar próbkowania, umożliwiając analizę dużej liczby próbek lub bardzo dużych obszarów w ramach jednej sekwencji pomiarowej, maksymalizując wydajność i dostarczając więcej informacji. Tryb bezobsługowy systemu uwalnia zasoby i umożliwia przeprowadzanie eksperymentów w nocy. W przeciwieństwie do niektórych innych systemów obrazowania, Spotlight 400 oferuje w pełni funkcjonalny spektrometr FTIR i system makropróbkowania. Dzięki temu nie potrzebujesz dodatkowego spektrometru FTIR, ani też zewnętrznej komory na próbki, aby obsługiwać nawet najbardziej wymagające aplikacje FTIR.
Dane techniczne
Spotlight 400 (pomiar punktowy)
Zakres
7800 – 600 cm-1
Stosunek sygnału do szumu
co najmniej 50000:1
Spotlight 400 (obrazowanie)
Zakres
7800 – 710 cm-1
Stosunek sygnału do szumu
co najmniej 400:1
Wielkość pixela
do 1,56 µm
Szybkość pomiaru
170 widm/sekundę
Dokumentacja do pobrania
Interaktywna broszura
PobierzMikroskop FTIR Spotlight 400
Obrazowanie IR
BROSZURA Spotlight 400 400N FT-NIR Imaging Systems EN
Pobierz
BROSZURA Spotlight 200i, Spotlight 400
Pobierz