Mikrospektroskopia FTIR i obrazowanie w podczerwieni [zakończone]

Pro-Environment Polska Sp. z o.o. serdecznie zaprasza na szkolenie „Mikrospektroskopia FTIR i obrazowanie w podczerwieni” poświęcone idei, potencjałowi i zastosowaniom techniki mikrospektroskopii FT-IR w badaniach, analizach i przemyśle. Szkolenie będzie dotykać problemów związanych z typowymi, dostępnymi na rynku urządzeniami do mikrospektrometrii FT-IR ze szczególnym skupieniem się na aparacie Spotlight 400 – dostępnym w naszym laboratorium najwyższym modelu mikrospektrometru firmy Perkin Elmer.

Po co nam mikroskopia FT-IR

Czemu – i dla kogo – opłacalna jest rozbudowa posiadanych systemów FT-IR, bądź zakup nowych urządzeń? Jakie korzyści daje nam możliwość analizy mikropróbek – a także szerokozakresowego skanowania próbek za pomocą systemów obrazowania

Jakie są dostępne urządzenia i technologie

Mikrospektrometria FT-IR to rozbudowa techniki mikroskopii w świetle widzialnym, jednakże wymagająca specyficznych narzędzi i rozwiązań, zarówno w zakresie samej konstrukcji układu optycznego, jak i wykrywania niewidzialnego dla ludzkiego oka promieniowania podczerwonego. Co więcej, same urządzenia pracować mogą w kilku trybach, a każdy z nich ma swoje zalety i wady. Postaramy się odpowiedzieć jaki system i osprzęt są najkorzystniejsze dla danego rodzaju próbek, a także jakie są zalety i wady różnych dostępnych na rynku rozwiązań mikrospektrometrów FT-IR.

Jak przygotować próbki do analiz

Mikropróbki wymagają specjalnego traktowania. Specyfika mikroskopii FT-IR wymaga od analityka znajomości tego, co analizuje, i umiejętności przygotowania próbki do analizy w taki sposób, by zebrane dane widmowe nadawały się do jak najszerszej interpretacji. Ze względu na mnogość trybów pracy urządzenia i rodzajów typowo analizowanych próbek nie istnieje jeden, uniwersalny sposób ich przygotowania i mocowania pod obiektywem urządzenia. Jak zatem pracować? Naszą rolą jest omówić z Państwem typowe problemy w tym obszarze.

Co możemy wyczytać z zebranych danych

Mikroskopia FT-IR może przekazać nam wyniki na kilka sposobów – jako obraz IR próbki, jako widma punktowe, czy też skany liniowe. Pakiety programów sterujących. Pozwalają także na odpowiednią obróbkę zebranych danych, i wyciągnięcie z zebranych widm wielu informacji, które bez ich wsparcia są niedostępne. Porozmawiamy i popracujemy z plikami danych z typowych analiz wykonanych na naszym urządzeniu Spotlight 400.

Dlaczego Warto:

Chcemy przedstawić szerokie spojrzenie na problem analizy mikropróbek z wielu różnych środowisk – zarówno typowo badawczych, jak i przemysłowych, czy z materiałów naturalnych. Naszym celem jest pokazanie Państwu potencjału i możliwości, które idą za dostępnymi rynkowo urządzeniami, i pokazać, że tego typu analiza może być przydatna w Państwa pracy.