Rozwój cywilizacji zapewnia m. in. wzrost produkcji przemysłowej. Konsumenci oczekują produktów coraz bardziej zaawansowanych, o wysokiej jakości, a także możliwie tanich. Producenci chcą sprostać tym oczekiwaniom dbając równocześnie o możliwie niskie koszty wytwarzania. Znalezienie złotego środka nie jest możliwe bez głębokiej analizy już na etapie projektowania produktu i prac rozwojowych nad nim. Niemniej ważna jest kontrola jego jakości, a także optymalizacja procesu produkcji w oparciu o analizę parametrów tego procesu i samego wyrobu. Oferowane przez nas urządzenia analityczne są najczulszymi i najbardziej wiarygodnymi narzędziami wspomagającymi pracowników działów R&D, jakości oraz technologów w ich bieżącej pracy.
- icp-ms
- specjacja
- asa
- icp-oes
- sc-icp-ms
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
- sc-icp-ms
- icp-ms
Kompendium not aplikacyjnych techniki Single Particle ICP-MS
Kompendium not aplikacyjnych techniki Single Particle ICP-MS
- icp-ms
- sc-icp-ms
Oznaczanie nanocząstek złota i srebra we krwi techniką Single Particle ICP-MS
NOTA SP-ICP-MS Oznaczanie nanocząstek złota i srebra we krwi techniką SP-ICP-MS
- icp-ms
- sc-icp-ms
Analiza całkowitej zawartości tytanu oraz nanocząstek tytanu w surowicy techniką Single Particle ICP-MS
NOTA SP-ICP-MS Analiza sumy oraz pojedynczych cząstek tytanu w surowicy techniką SP-ICP-MS
- icp-ms
- sc-icp-ms
Monitorowanie szybkości pobierania nanocząstek oraz jonów złota przez algi techniką Single Cell ICP-MS
NOTA SC-ICP-MS AuNPs algi EN
- icp-ms
- sc-icp-ms
Analiza nanocząsteczek srebra w wodzie morskiej techniką Single Particle ICP-MS
NOTA SP-ICP-MS Analiza nanocząsteczek srebra w wodzie morskiej techniką ICP-MS
- icp-ms
- sc-icp-ms
Pomiar i analiza nanocząstek srebra w ściekach techniką Single Particle ICP-MS
NOTA SP-ICP-MS Ag NPs in Wastewater
- uv-vis
Analiza roztworu nanocząstek złota techniką UV-VIS
NOTA UV-VIS Analiza roztworu nanocząstek złota techniką UV-VIS
- icp-ms
- sc-icp-ms
Szybka analiza nanocząstek w wodzie pitnej techniką Single Particle ICP-MS
NOTA SP-ICP-MS Szybka analiza nanocząstek w wodzie pitnej techniką SP-ICP-MS
- icp-ms
- sc-icp-ms
Ocena zachowania nanocząstek w płynach ustrojowych techniką Single Particle ICP-MS
NOTA SP-ICP-MS Ocena stanu nanocząstek w płynach ustrojowych techniką SP-ICP-MS
- sc-icp-ms
- icp-ms
Analiza nanocząstek w wodzie morskiej techniką Single Particle ICP-MS
NOTA SP-ICP-MS Nanoparticles in Seawater
- icp-ms
- sc-icp-ms
Analiza nanocząstek dwutlenku ceru w glebie techniką Single Particle ICP-MS
NOTA SP-ICP-MS Cerium Dioxide Nanoparticles in Soil
- icp-ms
- sc-icp-ms
Analiza nanocząstek CeO2+ZnO w procesie uzdatniania wody techniką Single Particle ICP-MS
NOTA SP-ICP-MS CeO2+ZnO NPs in Drinking Water Treatments
- icp-ms
- sc-icp-ms
Analiza przemian nanocząstek pod wpływem ich ekspozycji na warunki środowiskowe techniką Single Particle ICP-MS
NOTA SP-ICP-MS Analiza przemian nanocząstek pod wpływem ich ekspozycji na warunki środowiskowe techniką SP-ICP-MS
- icp-ms
- sc-icp-ms
Analiza i charakterystyka nanocząstek srebra techniką CFFFF ICP-MS
NOTA ICP-MS Wykrywanie i analiza nanocząstek srebra techniką CFFFF ICP-MS
- icp-ms
- sc-icp-ms
Analiza wzorca nanocząstek złota techniką Single Particle ICP-MS
NOTA ICP-MS analiza wzorca nanocząstek złota techniką SP-ICP-MS
- icp-ms
- sc-icp-ms
Analiza nanocząstek SiO2 techniką ICP-MS
NOTA ICP-MS Analiza nanocząstek SiO2 techniką ICP-MS
- dsc
Określanie ciepła właściwego materiałów nanokompozytowych techniką Hyper DSC
NOTA DSC Określanie ciepła właściwego materiałów nanokompozytowych techniką Hyper DSC
- tmadma
- ftir
- dsc
- tga
- icp-ms
- techniki-sprzezone
- sc-icp-ms
- uv-vis
- fluorescencja
Zestawienie technik analitycznych stosowanych w analizie nanomateriałów
NOTA ALL Zestawienie technik analitycznych stosowanych w analizie nanomateriałów
- sc-icp-ms
- icp-ms
Analiza nanocząstek żelaza w rozpuszczalnikach organicznych stosowanych w przemyśle półprzewodnikowym techniką ICP-MS
NOTA ICP-MS Analiza nanocząstek żelaza w rozpuszczalnikach organicznych
- sc-icp-ms
Ilościowa ocena pobierania nanocząstek złota do komórek nowotworowych z wykorzystaniem techniki Single Cell ICP-MS
NOTA SC-ICP-MS AuNPs komórki nowotworowe EN
- icp-ms
- specjacja
- asa
- icp-oes
- sc-icp-ms
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
- icp-oes
Analiza dodatków do olejów zgodnie z normą ASTM D4951 za pomocą ICP-OES
Analiza dodatków do olejów zgodnie z normą ASTM D4951 za pomocą ICP-OES
- icp-oes
Analiza olejów maszynowych zgodnie z normą ASTM D5185 za pomocą ICP-OES
Analiza olejów maszynowych zgodnie z normą ASTM D5185 za pomocą ICP-OES
- ftir
- obrazowanie-ir
Wykorzystanie spektroskopii i mikroskopii FTIR w ocenie procesów starzenia w przemyśle
Wykorzystanie spektroskopii i mikroskopii FTIR w ocenie procesów starzenia w przemyśle
- dsc
Analiza parametru WAT - Wax Appearance Temperature z DSC
Analiza parametru WAT – Wax Appearance Temperature z DSC
- icp-oes
Analiza pierwiastków w olejach nowych i przepracowanych oraz w dodatkach uszlachetniających za pomocą ICP-OES z technologia Flat Plate Plasma
Analiza pierwiastków w olejach nowych i przepracowanych oraz w dodatkach uszlachetniających za pomocą ICP-OES z technologia Flat Plate Plasma
- icp-oes
Wysokowydajna stacja OilPrep™8 do analizy olejów przepracowanych
Wysokowydajna stacja OilPrep™8 do analizy olejów przepracowanych
- icp-oes
Nowy sposób analizy zawartości cząstek stałych oraz metali w smarach
Nowy sposób analizy zawartości cząstek stałych oraz metali w smarach
- icp-oes
Analiza olejów maszynowych zgodnie z ASTM D5185 techniką ICP-OES
Analiza olejów maszynowych zgodnie z ASTM D5185 techniką ICP-OES
- ftir
Oznaczanie węglowodorów w próbkach środowiskowych techniką FTIR
NOTA FTIR Hydrocarbons in Environment
- fluorescencja
Identyfikacja olejów w środowisku techniką spektroskopii fluorescencyjnej
NOTA Fluorescnecja Identyfikacja olejów w środowisku techniką spektroskopii fluorescencyjnej
- gc
- icp-oes
- ftir
Analiza smarów
NOTA ICP-OES FTIR GC Analiza smarów
- gc
Rutynowa, pozwalająca osiągnąć bardzo niski poziom detekcji analiza komercyjnej benzyny Flex Fuel (E85) metodą ASTM D5501-20
Rutynowa, pozwalająca osiągnąć bardzo niski poziom detekcji analiza komercyjnej benzyny Flex Fuel (E85) metodą ASTM D5501-20
- icp-ms
- specjacja
- asa
- icp-oes
- sc-icp-ms
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
- asa
Analiza wanadu, niklu, sodu i żelaza w oleju opałowym za pomocą płomieniowej spektrometrii absorpcji atomowej
Analiza wanadu, niklu, sodu i żelaza w oleju opałowym za pomocą płomieniowej spektrometrii absorpcji atomowej
Kompendium – analiza baterii litowo-jonowych i ich komponentów
Kompendium – analiza baterii litowo-jonowych i ich komponentów
- dsc
- gc-ms
- ftir
- techniki-sprzezone
- icp-oes
- tga
BRO_Przewodnik po technikach analizy baterii litowo-jonowych
Przewodnik po technikach analizy baterii litowo-jonowych
- ftir
- obrazowanie-ir
Wykorzystanie spektroskopii i mikroskopii FTIR w ocenie procesów starzenia w przemyśle
Wykorzystanie spektroskopii i mikroskopii FTIR w ocenie procesów starzenia w przemyśle
- dsc
Analiza parametru WAT - Wax Appearance Temperature z DSC
Analiza parametru WAT – Wax Appearance Temperature z DSC
- icp-oes
Analiza zanieczyszczeń nieorganicznych w biodieslu spektrometrem ICP-OES z technologią Flat Plate Plasma
Analiza zanieczyszczeń nieorganicznych w biodieslu spektrometrem ICP-OES z technologią Flat Plate Plasma
- icp-oes
Analiza płynów stosowanych przy szczelinowaniu podczas wydobycia ropy naftowej techniką ICP-OES
Analiza płynów stosowanych przy szczelinowaniu podczas wydobycia ropy naftowej techniką ICP-OES
- chns-o
Analiza elementarna różnych grup związków chemicznych z wykorzystaniem analizatora CHN
Analiza elementarna różnych grup związków chemicznych z wykorzystaniem analizatora CHN
- gc-ms
- gc
Analiza FAME techniką GC-MS
NOTA GC-MS Analiza FAME techniką GC-MS
- ftir
Oznaczanie węglowodorów w próbkach środowiskowych techniką FTIR
NOTA FTIR Hydrocarbons in Environment
- icp-oes
Bezpośrednia analiza zanieczyszczeń w etanolu techniką ICP-OES
NOTA ICP-OES Analiza czystości etanolu w paliwach techniką ICP-OES
- icp-ms
Oznaczanie pierwiastków śladowych w produktach naftowych techniką ICP-MS
NOTA ICP-MS Oznaczanie pierwiastków śladowych w produktach naftowych
- gc
- gc-ms
Analiza rozkładu izomerów w paliwie lotniczym techniką GC-MS
NOTA GC-MS Analiza rozkładu izomerów w paliwie lotniczym techniką GC-MS
- gc
- gc-ms
Analiza ciężkich węglowodorów techniką GC-MS
NOTA GC-MS Analiza ciężkich węglowodorów techniką GC-MS
- ftir
- icp-ms
- gc
- asa
- icp-oes
Analizy rafineryjne i gazu ziemnego - kompendium
NOTA GC ASA FTIR ICP-OES ICP-MS Analizy rafineryjne i gazu ziemnego – kompendium
- ftir
Analiza zanieczyszczeń bioetanolu techniką FTIR
NOTA FTIR Analiza zanieczyszczeń bioetanolu techniką FTIR
- ftir
Analiza paliwa w trakcie wyścigów motocyklowych
NOTA FTIR Analiza paliwa w trakcie wyścigów motocyklowych
- ftir
Analiza biopaliwa techniką FTIR zgodnie z EN 14078
NOTA FTIR Analiza biopaliwa techniką FTIR zgodnie z EN 14078
- ftir
Analiza Benzenu w benzynie wg ASTM D6277 techniką FTIR
NOTA FTIR Analiza Benzenu w benzynie wg ASTM D6277 techniką FTIR
- icp-ms
- specjacja
- asa
- icp-oes
- sc-icp-ms
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
- icp-oes
Poprawa analizy cezu dzięki rozszerzonemu zakresowi długości fal w spektrometrze ICP-OES Avio 220 Max
Poprawa analizy cezu dzięki rozszerzonemu zakresowi długości fal w spektrometrze ICP-OES Avio 220 Max
- uv-vis
Analiza preparatów aspiryny i paracetamolu za pomocą spektrometru Lambda 365+
Analiza preparatów aspiryny i paracetamolu za pomocą spektrometru Lambda 365+
- uv-vis
Oznaczanie zawartości podchlorynu sodu w środkach dezynfekujących
Oznaczanie zawartości podchlorynu sodu w środkach dezynfekujących
- icp-ms
Analiza stosunków izotopowych ołowiu i strontu za pomocą ICP-MS
Analiza stosunków izotopowych ołowiu i strontu za pomocą ICP-MS
- icp-ms
Bezpośrednia analiza zanieczyszczeń metalicznych w gazowym chlorowodorze za pomocą GED ICP-MS
Bezpośrednia analiza zanieczyszczeń metalicznych w gazowym chlorowodorze za pomocą GED ICP-MS
- icp-ms
Analiza próbek bogatych w pierwiastki ziem rzadkich przygotowanych przez stopienie z boranem litu za pomocą ICP-MS
Analiza próbek bogatych w pierwiastki ziem rzadkich przygotowanych przez stopienie z boranem litu za pomocą ICP-MS
- icp-ms
Analiza chlorków w materiale katody baterii litowej za pomocą ICP-MS
Analiza chlorków w materiale katody baterii litowej za pomocą ICP-MS
- icp-ms
Analiza ultra śladowych pierwiastków niemetalicznych w roztworach kwasu siarkowego za pomocą ICP-MS z zastosowaniem różnych gazów i rożnych parametrów w komorze kolizyjno-reakcyjnej
Analiza ultra śladowych pierwiastków niemetalicznych w roztworach kwasu siarkowego za pomocą ICP-MS
- icp-ms
Analiza odczynników o czystości do produkcji półprzewodników za pomocą automatycznego systemu dodatków wzorca (ASAS) ICP-MS
Analiza odczynników o czystości do produkcji półprzewodników za pomocą automatycznego systemu dodatków wzorca (ASAS) ICP-MS
- icp-oes
Bezpośrednia analiza fosforu, siarki, miedzi i żelaza w etanolu za pomocą ICP-OES
Bezpośrednia analiza fosforu, siarki, miedzi i żelaza w etanolu za pomocą ICP-OES
- icp-oes
Analiza pierwiastków śladowych w nawozie sztucznym za pomocą ICP-OES
Analiza pierwiastków śladowych w nawozie sztucznym za pomocą ICP-OES
Kompendium – analiza baterii litowo-jonowych i ich komponentów
Kompendium – analiza baterii litowo-jonowych i ich komponentów
- icp-ms
Bezpośrednie oznaczanie pierwiastków ziem rzadkich w tlenku ceru o wysokiej czystości za pomocą ICP-MS NexION 5000, zgodnie metodą GB/T 18115.2-2020
Bezpośrednie oznaczanie pierwiastków ziem rzadkich w tlenku ceru o wysokiej czystości za pomocą ICP-MS NexION 5000, zgodnie metodą GB/T 18115.2-2020
- dsc
- gc-ms
- ftir
- techniki-sprzezone
- icp-oes
- tga
BRO_Przewodnik po technikach analizy baterii litowo-jonowych
Przewodnik po technikach analizy baterii litowo-jonowych
- ftir
Analiza zanieczyszeń pierwiastkowych w półprzewodnikowych płytkach krzemowych z FTIR
Analiza zanieczyszeń pierwiastkowych w półprzewodnikowych płytkach krzemowych z FTIR
- icp-oes
Analiza solanki spektrometrem ICP-OES
Analiza solanki spektrometrem ICP-OES
- chns-o
Analiza elementarna różnych grup związków chemicznych z wykorzystaniem analizatora CHN
Analiza elementarna różnych grup związków chemicznych z wykorzystaniem analizatora CHN
- ftir
Analiza czasowa utwardzacza cyjanoakrylowego techniką FTIR
Analiza czasowa utwardzacza cyjanoakrylowego techniką FTIR
- icp-ms
Analiza ultraczystej wody spektrometrem ICP-MS NexION 5000
Analiza ultraczystej wody spektrometrem ICP-MS NexION 5000
- ftir
Monitorowanie szybkich reakcji chemicznych szybkoskanującym spektrometrem FTIR z wykorzystaniem przystawki Stopped-Flow
Monitorowanie szybkich reakcji chemicznych
- ftir
Wykorzystanie przystawki ATR w analizach w zakresie dalekiej podczerwieni
Wykorzystanie przystawki ATR w analizach w zakresie dalekiej podczerwieni
- ftir
Pomiar zawartości etanolu i izopropanolu w płynie do dezynfekcji rąk techniką FTIR
Pomiar zawartości etanolu i izopropanolu w płynie do dezynfekcji rąk
- uv-vis
Analiza roztworu nanocząstek złota techniką UV-VIS
NOTA UV-VIS Analiza roztworu nanocząstek złota techniką UV-VIS
- sc-icp-ms
- icp-ms
Analiza nanocząstek żelaza w rozpuszczalnikach organicznych stosowanych w przemyśle półprzewodnikowym techniką ICP-MS
NOTA ICP-MS Analiza nanocząstek żelaza w rozpuszczalnikach organicznych
- ftir
Wyznaczanie liczby hydroksylowej w poliolach techniką FT-NIR
NOTA FTIR Wyznaczanie liczby hydroksylowej w poliolach techniką FT-NIR
- ftir
Oznaczanie liczby hydroksylowej w poliolach z zastosowaniem spektrometru FT-NIR Spectrum Two N
Oznaczanie liczby hydroksylowej w poliolach z zastosowaniem spektrometru FT-NIR Spectrum Two N
- gc
Analiza pozostałości rozpuszczalników i monomerów w tworzywach sztucznych
Analiza pozostałości rozpuszczalników i monomerów w tworzywach sztucznych
- icp-ms
- specjacja
- asa
- icp-oes
- sc-icp-ms
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
- uv-vis
Oznaczanie poziomu azotynów w płynach chłodniczych z wykorzystaniem spektroskopii UV-Vis
Oznaczanie poziomu azotynów w płynach chłodniczych z wykorzystaniem spektroskopii UV-Vis
- tmadma
- sta6000-8000
- tga
- dsc
APP_Zastosowanie analizy termicznej w analizie opakowań w przemyśle półprzewodników
Zastosowanie analizy termicznej w analizie opakowań w przemyśle półprzewodników
- sc-icp-ms
- icp-ms
Wykorzystanie C13 do przesiewowego wykrywania mikroplastików z wykorzystaniem SP-ICP-MS
Wykorzystanie C13 do przesiewowego wykrywania mikroplastików z wykorzystaniem SP-ICP-MS
- tmadma
- gc-ms
- ftir
- techniki-sprzezone
- obrazowanie-ir
- tga
- uv-vis
- dsc
Kompendium wiedzy aplikacyjnej w analizie polimerów
Kompendium wiedzy aplikacyjnej w analizie polimerów
- ftir
Analiza zanieczyszeń pierwiastkowych w półprzewodnikowych płytkach krzemowych z FTIR
Analiza zanieczyszeń pierwiastkowych w półprzewodnikowych płytkach krzemowych z FTIR
- gc-ms
- techniki-sprzezone
- tga
Analiza mikroplastiku z wykorzystaniem technik sprzężonych TG-GCMS
Analiza mikroplastiku z wykorzystaniem technik sprzężonych TG-GCMS
- tga
- dsc
- ftir
Analiza właściwości środków ochrony osobistej PPE
Analiza właściwości środków ochrony osobistej PPE
- dsc
Analiza procesu utwardzania spoiw promieniowaniem UV z DSC 8000
Analiza procesu utwardzania spoiw promieniowaniem UV z DSC 8000
- dsc
HyperDSC - Przełomowa metoda w analizie materiałowej DSC
HyperDSC – Przełomowa metoda w analizie materiałowej DSC
- uv-vis-nir
Analiza TSR (Total Solar Reflectance) pokryć paneli i tynków spektrometrem UV-VIS-NIR
Analiza TSR (Total Solar Reflectance) pokryć paneli i tynków spektrometrem UV-VIS-NIR
- uv-vis-nir
Analiza ESR (Enhanced Specular Reflector) filmów polimerowych spektrometrem UV-VIS-NIR
Analiza ESR (Enhanced Specular Reflector) filmów polimerowych spektrometrem UV-VIS-NIR
- uv-vis-nir
Analiza próbek o właściwościach silnie absorbujących spektrometrem UV-VIS-NIR
Analiza próbek o właściwościach silnie absorbujących spektrometrem UV-VIS-NIR
- uv-vis-nir
Pomiar absorbancji i współczynnika załamania cienkich filmów spektromerem UV-VIS-NIR
Pomiar absorbancji i współczynnika załamania cienkich filmów spektromerem UV-VIS-NIR
- obrazowanie-ir
Analiza mikroplastiku w wodzie - problem mikrozłoży
Analiza mikroplastiku w wodzie – problem mikrozłoży
- obrazowanie-ir
Analiza wielowarstwowych laminatów polimerowych mikroskopią FTIR
Analiza wielowarstwowych laminatów polimerowych mikroskopią FTIR
- ftir
Analiza czasowa utwardzacza cyjanoakrylowego techniką FTIR
Analiza czasowa utwardzacza cyjanoakrylowego techniką FTIR
- obrazowanie-ir
- ftir
Badanie wielowarstwowych laminatów za pomocą mikroskopu obrazowego FTIR Spotlight 400
Badanie wielowarstwowych laminatów za pomocą mikroskopu obrazowego FTIR Spotlight 400
- ftir
Wykorzystanie przystawki ATR w analizach w zakresie dalekiej podczerwieni
Wykorzystanie przystawki ATR w analizach w zakresie dalekiej podczerwieni
- ftir
Zalety analizy techniką FTIR w recyklingu polimerów
NOTA FTIR Zalety analizy techniką FTIR w recyklingu polimerów
- dsc
- uplc
- headspace
- gc
- gc-ms
Kompendium not aplikacyjnych -opakowania żywności
NOTA ALL Opakowania żywności – kompendium not aplikacyjnych
- tga
Ulepszone rozdzialanie składników polimeru ABS techniką TGA
NOTA TGA Ulepszone rozdzialanie składników polimeru ABS techniką TGA
- tga
Analiza składu opon techniką TGA
NOTA TGA Analiza składu opon techniką TGA
- tga
Analiza gumy analizatorem TGA 8000
NOTA TGA Analiza gumy analizatorem TGA 8000
- tga
Analiza polimerów techniką TGA
NOTA TGA – Analiza polimerów techniką TGA
- obrazowanie-ir
- ftir
Charakterystyka laminatów polimerowych techniką obrazowania IR
NOTA Obrazowanie IR Charakterystyka laminatów polimerowych techniką obrazowania IR
- ftir
Identyfikacja polimerów techniką FTIR
NOTA FTIR Identyfikacja polimerów techniką FTIR
- dsc
- ftir
Urządzenia do analizy polimerów i procesu ich recyklingu
NOTA FTIR DSC Urządzenia do analizy polimerów i procesu ich recyklingu
- ftir
- tga
- dsc
Recykling polimerów - kompendium not aplikacyjnych
NOTA FTIR DSC TGA FTIR Recykling polimerów – kompendium
- ftir
- gc
- gc-ms
- dsc
- tmadma
Charakterystyka Polimerów - widma
NOTA FTIR DSC DMA GC-MS Charakterystyka Polimerów – widma
- ftir
Analiza recyklingu żywicy polietylenowej techniką FTIR pod kątem zanieczyszczenia polipropylenem
NOTA FTIR Analiza recyklingu żywicy polietylenowej pod kątem zanieczyszczenia polipropylenem techniką FTIR
- ftir
Analiza jakości polimerów spektrometrem FTIR Spectrum Two
NOTA FTIR Analiza jakości polimerów spektrometrem FTIR Spectrum Two
- sta6000-8000
- dsc
Wpływ temperatury procesu produkcji PCW na żelowanie próbek techniką DSC
NOTA DSC Wpływ temperatury procesu produkcji PCW na żelowanie próbek techniką DSC
- sta6000-8000
- techniki-sprzezone
- ftir
- gc
- tga
- dsc
- tmadma
- obrazowanie-ir
Techniki analityczne w analizie polimerów
NOTA DSC TGA STA TMA DMA FTIR GC Obrazowanie IR Techniki analityczne w analizie polimerów
- sta6000-8000
- techniki-sprzezone
- ftir
- gc
- tga
- dsc
- tmadma
- gc-ms
Zaawansowane metody analizy polimerów
NOTA DSC TGA STA DMA FTIR GC-MS – Zaawansowane metody analizy polimerów
- dsc
Oznaczanie składników amorficznych półkrystalicznego polimeru techniką DSC
NOTA DSC Oznaczanie sztychnych i miękkich składników amorficznych półkrystalicznego polimeru techniką DSC
- dsc
Optymalizacja stabilności oksydacyjnej
NOTA DSC Optymalizacja stabilności oksydacyjnej
- uv-vis
Analiza koloru techniką spektrometrii UV-VIS z detektorem PDA
NOTA UV-VIS Analiza koloru techniką spektrometrii UV-VIS z detektorem PDA
- icp-ms
- specjacja
- asa
- icp-oes
- sc-icp-ms
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
- uv-vis-nir
Zaawansowane badania szkła spektrometrem UV-VIS-NIR z wykorzystaniem sfery UL270mm
Zaawansowane badania szkła spektrometrem UV-VIS-NIR z wykorzystaniem sfery UL270mm
- uv-vis-nir
Zaawansowane badania szkła spektrometrami UV-VIS-NIR Lambda 1050 i Lambda 850
Zaawansowane badania szkła spektrometrami UV-VIS-NIR Lambda 1050 i Lambda 850
- uv-vis-nir
Wykorzystanie techniki UV-VIS-NIR w produkcji ogniw fotowoltaicznych
Wykorzystanie techniki UV-VIS-NIR w produkcji ogniw fotowoltaicznych
- uv-vis-nir
Analiza wartości przerwy energetycznej materiałów spektrometrem UV-VIS-NIR
Analiza wartości przerwy energetycznej materiałów spektrometrem UV-VIS-NIR
- uv-vis-nir
Pomiar reflektancji materiałów stosowanych w przemyśle fotowoltaicznym - dobór akcesorium
Pomiar reflektancji materiałów stosowanych w przemyśle fotowoltaicznym – dobór akcesorium
- uv-vis-nir
Analiza TSR (Total Solar Reflectance) pokryć paneli i tynków spektrometrem UV-VIS-NIR
Analiza TSR (Total Solar Reflectance) pokryć paneli i tynków spektrometrem UV-VIS-NIR
- uv-vis-nir
Analiza ESR (Enhanced Specular Reflector) filmów polimerowych spektrometrem UV-VIS-NIR
Analiza ESR (Enhanced Specular Reflector) filmów polimerowych spektrometrem UV-VIS-NIR
- uv-vis-nir
Analiza próbek o właściwościach silnie absorbujących spektrometrem UV-VIS-NIR
Analiza próbek o właściwościach silnie absorbujących spektrometrem UV-VIS-NIR
- uv-vis-nir
Charakterystyka źródeł światła z wykorzystaniem spektrometru UV-VIS-NIR
Charakterystyka źródeł światła z wykorzystaniem spektrometru UV-VIS-NIR
- uv-vis-nir
Pomiar absorbancji i współczynnika załamania cienkich filmów spektromerem UV-VIS-NIR
Pomiar absorbancji i współczynnika załamania cienkich filmów spektromerem UV-VIS-NIR
- ftir
Zastosowania trójzakresowego spektrometru FTIR
Zastosowania trójzakresowego spektrometru FTIR
- ftir
Wykorzystanie przystawki ATR w analizach w zakresie dalekiej podczerwieni
Wykorzystanie przystawki ATR w analizach w zakresie dalekiej podczerwieni
- ftir
Wymagania aparaturowe przy analizie elementów optycznych techniką FTIR
NOTA FTIR Wymagania aparaturowe przy analizie elementów optycznych techniką FTIR
- ftir
Pomiar emisji szkła powlekanego techniką FTIR
NOTA FTIR Pomiar emisji szkła powlekanego techniką FTIR
- uv-vis
Analiza koloru techniką spektrometrii UV-VIS z detektorem PDA
NOTA UV-VIS Analiza koloru techniką spektrometrii UV-VIS z detektorem PDA
- icp-ms
- specjacja
- asa
- icp-oes
- sc-icp-ms
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
- uv-vis
Oznaczanie zawartości podchlorynu sodu w środkach dezynfekujących
Oznaczanie zawartości podchlorynu sodu w środkach dezynfekujących
- uv-vis
Oznaczanie poziomu azotynów w płynach chłodniczych z wykorzystaniem spektroskopii UV-Vis
Oznaczanie poziomu azotynów w płynach chłodniczych z wykorzystaniem spektroskopii UV-Vis
- specjacja
- icp-ms
Specjacja chromu sześciowartościowego oznaczanego w zabawkach zgodnie z EN 71-3 Category II za pomocą HPLC-ICP-MS
Specjacja chromu sześciowartościowego oznaczanego w zabawkach zgodnie z EN 71-3 Category II za pomocą HPLC-ICP-MS
- icp-ms
Analiza zanieczyszczeń w materiałach zawierających lit za pomocą ICP-MS
Analiza zanieczyszczeń w materiałach zawierających lit za pomocą ICP-MS
- icp-ms
Analiza stosunków izotopowych ołowiu i strontu za pomocą ICP-MS
Analiza stosunków izotopowych ołowiu i strontu za pomocą ICP-MS
- icp-ms
Bezpośrednia analiza zanieczyszczeń metalicznych w gazowym chlorowodorze za pomocą GED ICP-MS
Bezpośrednia analiza zanieczyszczeń metalicznych w gazowym chlorowodorze za pomocą GED ICP-MS
- icp-ms
Analiza chlorków w materiale katody baterii litowej za pomocą ICP-MS
Analiza chlorków w materiale katody baterii litowej za pomocą ICP-MS
- icp-ms
Analiza zanieczyszczeń metalicznych w kryształach krzemowych z zastosowaniem w pełni automatycznego rozkładu w fazie gazowej (VPD) ICP-MS
Analiza zanieczyszczeń metalicznych w kryształach krzemowych z zastosowaniem w pełni automatycznego rozkładu w fazie gazowej (VPD) ICP-MS
- icp-oes
Zastosowanie metody spektralnego dopasowania wieloskładnikowego (MSF) w eliminacji interferencji w próbkach metalurgicznych mierzonych ICP-OES
Zastosowanie metody spektralnego dopasowania wieloskładnikowego (MSF) w eliminacji interferencji w próbkach metalurgicznych mierzonych ICP-OES
- icp-oes
Dokładna analiza materiałów baterii za pomocą ICP-OES
Dokładna analiza materiałów baterii za pomocą ICP-OES
- icp-oes
Analiza rud miedzi-złota za pomocą Avio 220 Max ICP-OES
Analiza rud miedzi-złota za pomocą Avio 220 Max ICP-OES
Kompendium – analiza baterii litowo-jonowych i ich komponentów
Kompendium – analiza baterii litowo-jonowych i ich komponentów
- dsc
- gc-ms
- ftir
- techniki-sprzezone
- icp-oes
- tga
BRO_Przewodnik po technikach analizy baterii litowo-jonowych
Przewodnik po technikach analizy baterii litowo-jonowych
- tmadma
- sta6000-8000
- tga
- dsc
APP_Zastosowanie analizy termicznej w analizie opakowań w przemyśle półprzewodników
Zastosowanie analizy termicznej w analizie opakowań w przemyśle półprzewodników
- tmadma
- gc-ms
- ftir
- techniki-sprzezone
- obrazowanie-ir
- tga
- uv-vis
- dsc
Kompendium wiedzy aplikacyjnej w analizie polimerów
Kompendium wiedzy aplikacyjnej w analizie polimerów
- uv-vis-nir
Charakterystyka profilu starzenia się atramentu z UV VIS NIR
Charakterystyka profilu starzenia się atramentu z UV VIS NIR
- tga
- dsc
- ftir
Analiza właściwości środków ochrony osobistej PPE
Analiza właściwości środków ochrony osobistej PPE
- icp-oes
Analiza różnych pierwiastków w kwasie fosforowym stosowanym w produkcji półprzewodników techniką ICP-OES
Analiza różnych pierwiastków w kwasie fosforowym stosowanym w produkcji półprzewodników techniką ICP-OES
- icp-oes
Analiza zanieczyszczeń w niklu techniką ICP-OES zgodnie z protokołem Giełdy Londyńskiej
Analiza zanieczyszczeń w niklu techniką ICP-OES zgodnie z protokołem Giełdy Londyńskiej
- icp-oes
Analiza zanieczyszczeń w ołowiu techniką ICP-OES zgodnie z protokołem Giełdy Londyńskiej
Analiza zanieczyszczeń w ołowiu techniką ICP-OES zgodnie z protokołem Giełdy Londyńskiej
- icp-oes
Analiza zanieczyszczen w złocie według ASTM B562_95
Analiza zanieczyszczen w złocie według ASTM B562_95
- dsc
Analiza procesu utwardzania spoiw promieniowaniem UV z DSC 8000
Analiza procesu utwardzania spoiw promieniowaniem UV z DSC 8000
- dsc
HyperDSC - Przełomowa metoda w analizie materiałowej DSC
HyperDSC – Przełomowa metoda w analizie materiałowej DSC
- uv-vis-nir
Analiza barwy pigmentu skóry z wykorzystaniem modelu CIEL*a*b UV-VIS
Analiza barwy pigmentu skóry z wykorzystaniem modelu CIEL*a*b UV-VIS
- uv-vis-nir
Analiza kremów z filtrem SPF według COLIPA 2011, FDA 2011 spektrometrem UV-VIS-NIR
Analiza kremów z filtrem SPF według COLIPA 2011, FDA 2011 spektrometrem UV-VIS-NIR
- uv-vis-nir
Analiza TSR (Total Solar Reflectance) pokryć paneli i tynków spektrometrem UV-VIS-NIR
Analiza TSR (Total Solar Reflectance) pokryć paneli i tynków spektrometrem UV-VIS-NIR
- uv-vis-nir
Analiza próbek o właściwościach silnie absorbujących spektrometrem UV-VIS-NIR
Analiza próbek o właściwościach silnie absorbujących spektrometrem UV-VIS-NIR
- uv-vis-nir
Pomiar absorbancji i współczynnika załamania cienkich filmów spektromerem UV-VIS-NIR
Pomiar absorbancji i współczynnika załamania cienkich filmów spektromerem UV-VIS-NIR
- obrazowanie-ir
Analiza wielowarstwowych laminatów polimerowych mikroskopią FTIR
Analiza wielowarstwowych laminatów polimerowych mikroskopią FTIR
- sc-icp-ms
- icp-ms
Kompendium not aplikacyjnych techniki Single Particle ICP-MS
Kompendium not aplikacyjnych techniki Single Particle ICP-MS
- ftir
Analiza czasowa utwardzacza cyjanoakrylowego techniką FTIR
Analiza czasowa utwardzacza cyjanoakrylowego techniką FTIR
- obrazowanie-ir
- ftir
Badanie wielowarstwowych laminatów za pomocą mikroskopu obrazowego FTIR Spotlight 400
Badanie wielowarstwowych laminatów za pomocą mikroskopu obrazowego FTIR Spotlight 400
- ftir
Wykorzystanie przystawki ATR w analizach w zakresie dalekiej podczerwieni
Wykorzystanie przystawki ATR w analizach w zakresie dalekiej podczerwieni
- ftir
Pomiar zawartości etanolu i izopropanolu w płynie do dezynfekcji rąk techniką FTIR
Pomiar zawartości etanolu i izopropanolu w płynie do dezynfekcji rąk
- uv-vis
Analiza koloru techniką spektrometrii UV-VIS z detektorem PDA
NOTA UV-VIS Analiza koloru techniką spektrometrii UV-VIS z detektorem PDA
- dsc
- tga
- sta6000-8000
Badanie podzespołów elektronicznych technikami analizy termicznej
NOTA TGA DSC STA Badanie podzespołów elektronicznych technikami analizy termicznej
- ftir
- obrazowanie-ir
Szybka charakterystyka obszarowa próbek techniką obrazowania IR
NOTA Obrazowanie IR Szybka charakterystyka obszarowa próbek techniką obrazowania IR
- lc-ms-ms
Oznaczanie Benzo-a-pirenu w produktach tytoniowych techniką LC/MS/MS
NOTA LC-MS-MS Oznaczanie Benzo-a-pirenu w produktach tytoniowych
- icp-oes
Dokładna analiza składu baterii techniką ICP-OES
NOTA ICP-OES Dokładna analiza składu baterii techniką ICP-OES
- icp-oes
Analiza stopów aluminium techniką ICP-OES
NOTA ICP-OES Analiza stopów aluminium techniką ICP-OES
- icp-oes
Analiza czystości aluminium techniką ICP-OES
NOTA ICP-OES Analiza czystości aluminium techniką ICP-OES
- specjacja
- icp-ms
Oznaczanie chromu VI w zabawkach techniką specjacji ICP-MS
NOTA ICP-MS HPLC Specjacja Oznaczanie chromu VI w zabawkach techniką specjacji ICP-MS
- sc-icp-ms
- icp-ms
Analiza nanocząstek żelaza w rozpuszczalnikach organicznych stosowanych w przemyśle półprzewodnikowym techniką ICP-MS
NOTA ICP-MS Analiza nanocząstek żelaza w rozpuszczalnikach organicznych
- uplc
- hplc
Oznaczanie Bisfenolu A w zabawkach techniką HPLC
NOTA HPLC Oznaczanie Bisfenolu A w zabawkach techniką HPLC
- uplc
- hplc
Analiza aflatoksyn w żywności dla zwierząt techniką HPLC
NOTA HPLC Analiza aflatoksyn w żywności dla zwierząt techniką HPLC
- gc-ms
Pomiar alkilofenoli w prókach tkanin techniką GC-MS
NOTA GC-MS Pomiar alkilofenoli w prókach tkanin techniką GC-MS
- gc-ms
- gc
- termodesorbery
Oznaczanie LZO (VOC) w tapetach techniką TD-GC-MS
NOTA GC-MS oznaczanie LZO (VOC) w tapetach techniką TD-GC-MS
- asa
Analiza pierwiastkowa zanieczyszczeń w ultraczystych kwasach i roztworów fotorezystywnych techniką GFAAS
NOTA ASA Analiza pierwiastkowa zanieczyszczeń w ultraczystych kwasach i roztworów fotorezystywnych techniką GFAAS
- asa
Analiza metali szlachetnych techniką FAAS
NOTA ASA Analiza metali szlachetnych techniką FAAS
- uv-vis
Testowanie kremów do opalania zgodnie z Colipa 2011 techniką UV-VIS
NOTA UV-VIS Testowanie kremów do opalania zgodnie z Colipa 2011 techniką UV-VIS
- uv-vis
Szacowanie SPF metodą in-vivo techniką UV-VIS
NOTA UV-VIS Szacowanie SPF metodą in-vivo techniką UV-VIS
- uv-vis
Charakterystyka blokerów UV w kremach do opalania i kosmetykach techniką UV-VIS
NOTA UV-VIS Charakterystyka blokerów UV w kremach do opalania i kosmetykach techniką UV-VIS
- ftir
Wykrywanie fałszerstw gliceryny glikolem dietylenowym techniką FT-NIR
NOTA FTIR Wykrywanie fałszerstw gliceryny glikolem dietylenowym techniką FT-NIR
- ftir
Szybka analiza jakości płatków mydlanych techniką FTIR i FT-NIR
NOTA FTIR Szybka analiza jakości płatków mydlanych techniką FTIR i FT-NIR
- icp-ms
- specjacja
- asa
- icp-oes
- sc-icp-ms
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
Przewodnik po systemach spektrometrii atomowej
- uv-vis
Oznaczanie poziomu azotynów w płynach chłodniczych z wykorzystaniem spektroskopii UV-Vis
Oznaczanie poziomu azotynów w płynach chłodniczych z wykorzystaniem spektroskopii UV-Vis
- icp-ms
Analiza zanieczyszczeń w materiałach zawierających lit za pomocą ICP-MS
Analiza zanieczyszczeń w materiałach zawierających lit za pomocą ICP-MS
- ftir
- obrazowanie-ir
Wykorzystanie spektroskopii i mikroskopii FTIR w ocenie procesów starzenia w przemyśle
Wykorzystanie spektroskopii i mikroskopii FTIR w ocenie procesów starzenia w przemyśle
- ftir
Wykorzystanie przystawki ATR w analizach w zakresie dalekiej podczerwieni
Wykorzystanie przystawki ATR w analizach w zakresie dalekiej podczerwieni
- tga
Analiza składu opon techniką TGA
NOTA TGA Analiza składu opon techniką TGA
- tga
Analiza gumy analizatorem TGA 8000
NOTA TGA Analiza gumy analizatorem TGA 8000
- ftir
Identyfikacja polimerów techniką FTIR
NOTA FTIR Identyfikacja polimerów techniką FTIR
- dsc
Optymalizacja stabilności oksydacyjnej
NOTA DSC Optymalizacja stabilności oksydacyjnej
- ftir
Analiza paliwa w trakcie wyścigów motocyklowych
NOTA FTIR Analiza paliwa w trakcie wyścigów motocyklowych
- ftir
- obrazowanie-ir
Analiza odprysków lakieru samochodowego techniką obrazowania IR
NOTA Obrazowanie IR Analiza odprysków lakieru samochodowego techniką obrazowania IR
- gc
- icp-oes
- dsc
- ftir
Techniki analityczne w służbie wyścigów Formuły 1
NOTA ICP-OES DSC FTIR GC Techniki analityczne w służbie wyścigów Formuły 1
- gc-ms
- gc
- termodesorbery
Identyfikacja LZO (VOC) we wnętrzu pojazdów techniką TD-GC-MS
NOTA GC-MS Identyfikacja LZO (VOC) we wnętrzu pojazdów techniką TD-GC-MS
- gc
- termodesorbery
Zapewnienie zgodności z wymaganiami VDA 278 - LZO we wnętrzach samochodowych
NOTA GC Turbomatrix Zapewnienie zgodności z wymaganiami VDA 278 – LZO we wnęttrzach samochodowych
- icp-ms
- icp-oes
- dsc
- ftir
- uplc
- uv-vis
- gc-ms
- tga
- gc
- hplc
Zestawienie technik analitycznych dla przemysłu motoryzacyjnego
NOTA GC GC-MS HPLC FTIR DSC TGA ICP-OES ICP-MS UV-VIS Zestawienie technik analitycznych dla przemysłu motoryzacyjnego
- uv-vis
Analiza koloru techniką spektrometrii UV-VIS z detektorem PDA
NOTA UV-VIS Analiza koloru techniką spektrometrii UV-VIS z detektorem PDA
